数字IC测试仪抄板
聚芯自成立以来一直专注于反向技术的研究，以电子产品反向工程技术的研究成果为导向开展业务。致力于借助反向技术研究向客户提供产品的技术服务与解决方案，帮助客户实现其产品最大性价比。数字IC测试仪是我们的又一抄板成功案例，其有关性能介绍如下：
数字IC测试仪特点：
◆器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。
◆器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断 其型号。
◆器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
◆器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致，引脚排列一致的器件型号。
◆电压调节选择：3V、5V、9V、15V。
◆内部RAM数据修改：ICT-33C可从键盘对自己内部RAM中的数据进行随机修改。
◆EPROM、EEPROM器件读入：ICT-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入
并保存。
◆EPROM、EEPROM器件写入：ICT-33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM
器件中,并自动校验。
◆ 新增RS232接口，与PC通讯，互送资料。
聚芯在PCB抄板，IC芯片解密等领域是绝对的行业老大，我们有无数的技术资料，如果您有需要的话请与我们联系。